計測技術
計測技術
MarSurf CM select 3D表面測定
JA
オーダーメイドの表面測定
MarSurf CMの 選択は 表面の三次元測定および分析用の強力で設定可能な共焦点顕微鏡- 非触覚、材料に依存せずかつ高速

軸と分離システムおよびソフトウェアモジュールは個別に組み合わせることができます。これにより、測定システムをさまざまな測定タスクに適応させることができます。

マルチセンサーシステムとして、MarSurf Cの 選択は また、一つの測定装置に異なるセンサー技術を組み合わせることも可能です。測定作業に応じて、さまざまなセンサーを柔軟に選択できます。

MarSurf CMの 選択は 完全自動化された測定ソリューションに至るまで、自動化、快適性および正確性の測定に関する個々の要件を満たします。

主な利点:
  • 連続運転用に設計されています
  • QAシステムに転送するための産業用インタフェースを備えた自動化ソフトウェア
  • フル分解能でも速い高速測定速度
  • サンプルサイズに合わせて個別に設定可能
  • マルチセンサーシステム
  • ユーザーフレンドリーなコンセプト
  • 加工対象物と測定システムを保護するためあらゆる方向での衝突検出を行うことで安全性を確保します
  • ハイダイナミックレンジ(HDR)機能、16ビット
  • HDステッチングによる大きな測定面の一貫した高解像度出力

この実証済み光学測定システムは、例えば以下の用途に使用されています:
  • DIN EN ISO 4287/25178に準拠した粗さ測定
  • 地形測定(体積、損耗、等方性を含む)
  • ミクロ形状と層厚の測定

ユーザー様はこの測定システムの信頼性を重視しています。 多くの産業向けの3D特性
  • 技術データ
  • 用途
  • 発送

分解能
up to 2 (nm) vertical
測定速度
up to 100fps
測定原則
共焦点
高性能LED(505 nm /白色)
その他
Collision detection in xyz direction
供給電源
100 - 240 V
表面パラメータ
ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …
位置決め量x
300 mm
位置決め量y
300 mm
位置決め体積x y z
100 mm

機械工学
粗さ、形状および摩耗量を定性および定量化します

エレクトロニクスと半導体
欠陥のない製品のサブミクロンまでの部品検査

医療技術
製造および実験室における医療用表面の品質保証

材料科学
新しい表面と製品の機能特性の最適化

マイクロシステムズテクノロジー
ナノメートルの精度で最小部品の複雑な表面形状を測定

MarSurf CM 選択は
  • 共焦点測定ヘッド
    • HDRカメラ(モノクロームまたはカラーカメラ)
    • 識別機能(オプション)付き4倍レンズリボルバー
  • 制御電子機器を含むガントリー設計
  • さまざまなバリエーションで電動XYZテーブルが選択可能です
  • 24インチTFTモニター二台を含む産業用コンピュータ
  • 対物レンズ:
    • 5倍から100倍まで選択可能
  • 制振システムの利用が可能です
  • マルチセンサーシステム(オプション)
  • 俯瞰カメラ(オプション)
  • 直感的なデータ収集のためのMarSurf MSW
  • 自動化のためのMarSurf ASW(オプション)
  • 専門家による評価、グラフィック表示および測定記録の作成用MarSurf MfM
    (標準、拡張またはプレミアムバージョンの選択)