計測技術
計測技術
MarSurf CP select 3D 形状測定
JA
光学2D / 3D形状測定
コンパクトなMarSurf CPとMarSurf CL 選択 表面の三次元測定および分析用の光学式形状測定器で、非触覚、材料の如何にかかわらず素早く測定結果を生成します。

同時に高い測定精度で大きな測定表面を高速で検出する優れた性能を備えています。

それらのモジュラー設計のおかげで、測定システムは自動化、測定の快適さと正確さのための異なる測定タスクと個々の要求に適応することができます。測定作業に応じて、さまざまなセンサーを柔軟に選択できます。Axisシステムとソフトウェアモジュールは個別に組み合わせることができます。

MarSurf CPとCL 選択 完全自動化された測定ソリューションに至るまで、自動化、快適性および正確性の測定に関する個々の要件を満たします。
  • 大規模3D測定
  • 高速測定速度
  • 自動化ソフトウェアによるユーザーに依存しない連続測定
  • 優れた側面受け入れ性
  • 層厚測定および透明材料の測定
  • 作動距離の広い高さ測定範囲
  • 堅牢で高信頼度
  • ユーザーフレンドリーなコンセプト

この実証済みの光学測定システムは、例えば以下の用途に使用されています:
  • DIN EN ISO 4287に準拠した粗さ測定
  • 地形測定(体積、損耗、等方性を含む)
  • マクロおよびミクロ形状の測定
  • 平坦度と共平面性の決定

ユーザー様はMarSurf CPとCLを高く評価しています 選択 定量的追跡可能性を提供する信頼できる測定システムとしてのシリーズ 多くの産業向けの3D特性
  • 技術データ
  • 用途
  • 発送

測定速度
4 kHz
測定原則
クロマティック - 共焦点
供給電源
100 - 240 V
表面パラメータ
ISO 4287, ISO 13565, ISO 25178, …
位置決め量x
100 mm
位置決め量y
150 mm
位置決め体積x y z
150 mm

機械工学
粗さ、形状および摩耗量を定性および定量化します

エレクトロニクスと半導体
欠陥のない製品のサブミクロンまでの部品検査

医療技術
製造および実験室における医療用表面の品質保証

材料科学
新しい表面と製品の機能特性の最適化

マイクロシステムズテクノロジー
ナノメートルの精度で最小部品の複雑な表面形状を測定

MarSurf CP 選択
  • 色点センサーが選択可能です
  • 制御エレクトロニクスを含むポータル構築、モデルが選択可能です
  • さまざまなバリエーションで電動XYZテーブルが選択可能です
  • 産業用コンピュータ、24インチTFTモニター二台を含む
  • 振動減衰装置が選択可能です
  • 俯瞰カメラが選択可能です
  • 直感的なデータ収集のためのMarSurf MSW
  • 自動化のためのMarSurf ASW(オプション)
  • 専門的評価、グラフィック表示および測定記録の作成用MarSurf MfM
    (標準,拡張, プレミアムバージョン選択可能)

MarSurf CL 選択
  • 有彩色線センサーが選択可能です
  • 制御エレクトロニクスを含むポータル構築、モデルが選択可能です
  • さまざまなバリエーションで電動XYZテーブルが選択可能です
  • 産業用コンピュータ、24インチTFTモニター二台を含む
  • 振動減衰装置が選択可能です
  • 俯瞰カメラが選択可能です
  • 直感的なデータ収集のためのMarSurf MSW
  • 自動化のためのMarSurf ASW(オプション)
  • 専門的評価、グラフィック表示および測定記録の作成用MarSurf MfM
    (標準,拡張, プレミアムバージョン選択可能)